快速温变试验目的:
快速温变试验是用来确定产品在高温、低温快速或缓慢变化的气候环境下的储存、运输、使用的适应性。试验过程是以常温→低温→低温停留→高温→高温停留→常温作为一个循环,温度循环试验的严苛程度是以高/低温度范围、停留时间以及循环数来决定的。
例如,在大功率的电阻器旁边,辐射会引起邻近元器件表面温度升高,而其他部分仍然是冷的。
快速温变试验为产品的可靠性改进和提升提供依据,并确认其寿命与可靠性是否符合整机产品的设计要求;对比不同牌号/不同供应商确定材料的寿命与可靠性优劣,为改进优化及材料选型提供依据。
快速温变为模拟产品在带电工作时产品性能随温度的变化,快速温变的目的是确定材料、电子设备或其他零部件耐受环境温度快速变化的能力,温度变化速率越快,考核越严酷,通常温度变化速率≥3℃/min,耐受能力包括温度变化条件下的电气性能、机械性能、评价元器件结构是否适合耐受人工应力。
温度变化试验,为设置一定的温度变化速率进行高温与低温之间的转变。在实际应用中有两类:
一类为慢速的温度变化试验,其温度变化速率<3℃/min(一般各标准经常选择参数为1℃/min),也既一般应用中的温度变化、温度循环、温度交变试验(此三类为一种试验);