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电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍,当设备未通电时,其内部零件要比其表面上的零件经受的温度温度变化慢,通电后设备产生高的温度梯度,由于温度变化,元器件会经受应力。
另一类为快速的温度变化试验,其温度变化速率≥3℃/min,也既一般应用中的快速温变试验。温度变化速率越快,考核越严酷。
快速温变试验目的:
快速温变试验是用来确定产品在高温、低温快速或缓慢变化的气候环境下的储存、运输、使用的适应性。试验过程是以常温→低温→低温停留→高温→高温停留→常温作为一个循环,温度循环试验的严苛程度是以高/低温度范围、停留时间以及循环数来决定的。
但对于提篮式冷热冲击箱,严格上来讲,不建议用快速温变箱代替,因为提篮式冷热冲击箱的瞬间温变速率一定大于25℃/min,相比较三箱式冷热冲击箱,会更严苛,如果代替,可能造成不一样的失效模式。