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HAST也称为压力测试(PCT)或不饱和压力试验(USPCT)。设备参数:设备内尺寸: 255*255*318mm压力范围: 0.02~0.392MPa测试范围:IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等。HAST高加速老化测试的试验类别有:1.低温步进应力试验2.高温步进应力试验3.快速热循环试验4.振动步进应力试验5.综合应力试验6.工作应力测试-/gbaffhg/-