HAST高加速老化测试是一个高度加速，以温度和湿度为基础的可靠性试验方法.

HAST也称为压力测试（PCT）或不饱和压力试验（USPCT）。HAST高加速老化测试目的是为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间。

测试范围：IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等。

HAST高加速老化测试的试验类别有：

1、低温步进应力试验

2、高温步进应力试验

3、快速热循环试验

4、振动步进应力试验

5、综合应力试验

6、工作应力测试

设备参数：

设备内尺寸: 255*255*318mm

压力范围: 0.02~0.392MPa

温度范围：(105.0~162.2)℃

湿度范围：(75~100)%RH

HAST高加速老化测试相关标准：

1、IEC 60068-2-66:1994（Environmental testing-part2 :test methods-test Cx: damp heat，steady state(unsaturated pressurized vapour)

2、GB/T2423.40-1997

电子电工产品环境试验 *二部分：试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热